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压电物镜定位器是专门为物镜聚焦显微而设计的，采用无回差柔性铰链并联导向机构设计，物镜补偿量较小，具有超高聚焦稳定性，物镜定位器装入显微检测/测量或者观测装置可以带动镜片进行聚焦，显著提高定位精度，可与多种高分辨率的显微镜配合使用。

芯明天压电物镜定位器具有Z向纳米级定位精度，它的应用之一就是激光加工，例如晶圆切割。物镜将激光束进行聚焦，通过压电物镜定位器调整激光束加工点的位置，调整精度为纳米级，且速度可达亚毫秒。

激光加工之晶圆切割

激光经过透镜聚焦，再利用芯明天压电物镜定位器精确调整焦点的位置，使焦点准确的定位在晶圆待切割部位，使被切割部位温度急速升高，然后使之熔化或汽化。随着激光与被切割材料的相对运动，在切割材料上形成连续切割点从而达到切割的目的。

为了方便的更换物镜，安装座分别通过独立的转接件与显微镜和物镜进行连接。压电物镜定位器通过螺纹适配器安装于显微镜与物镜间。转接件可选M38×0.75、M27×0.75、M26×0.75、M26×1/36"、M25×0.75、W0.8×1/36"等，同时芯明天也接受定制螺纹适配器。

多种螺纹牙尺寸可选，可配置不同品牌的物镜，也可选择螺纹牙转接器进行转接。螺纹尺寸可定制。

白光干涉

白光干涉技术以可见光为光源，光源发出的白光通过干涉物镜后在半透射光学平面反射一半光强，另一半光强透射后照射在量测物表面并反射再次进入干涉物镜，与原光学平面的反射光产生干涉。搭配芯明天压电物镜定位器，准确性高可达纳米解析度，垂直扫描高度可达550μm。

 

原子力显微镜

原子力探针的针尖端部置于干涉显微镜的光轴上，产生干涉条纹由CCD接收，当样件移动时，表面高度变化，引起原子力探针的变化，其变化量由白光干涉条纹计量。当原子力探针的变化量超过预定阈值，探针拉回原位，实现原子力探针的跟踪测量。

 

差动式聚焦检测系统

差动式聚焦检测系统中，一束汇聚激光投影到工件之上，聚焦镜通过压电物镜定位器可垂直移动，其移动量由焦点误差信号控制，焦点误差信号探测它对真实表面的距离变动。当激光经工件转换并传递时，聚焦镜通过反馈系统维持与工件的精确距离，该反馈系统是从像检测器到由压电物镜定位器控制的聚焦镜的一个转换回路，聚焦镜的运动量表示所测表面的粗糙度数值。

 

显微光学成像

显微光学成像，通常也称“光学显微成像”，或“光学显微术”（Optical Microscopy，或Light Microscopy），是指透过样品或从样品反射回来的可见光，通过一个或多个透镜后得到微小样品的放大图像的技术。压电物镜定位器可带动物镜头做Z向精密运动，可使观测精度达纳米级。

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